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    Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

    作者:至一科技 日期:2021-01-02 点击:671
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    Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

    SOTOMD300-M被动隔振系统


    背景:半导体光电测试应用

    使用单位:深圳市海思半导体有限公司

    地点:广东省深圳市龙岗区坂田华为基地F区

    设备:Hisilicon半导体光电检测设备

    隔振方案:SOTOMD300-M


    半导体隔振系统.jpgSOTOMD被动隔振系统.jpg
    海思半导体设备SOTOMD隔振台.jpg
    Hisilicon半导体光电检测设备SOTOMD300-M被动隔振系统安装应用图


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